上图节选自 《AIAG&VDA FMEA手册》（第一版）第54页

该如何理解DFMEA探测度评估中的“探测机会”呢？  FMEA软件CoreFMEA为大家解答：

DFMEA中探测措施的三种测试类型区分

1. 通过/不通过测试 (Pass-Fail Testing)

定义：仅验证产品在特定条件下的基本功能是否符合要求，不关注产品性能随时间的退化。

关键特点：

• 仅检查产品在测试点是否满足接收标准
• 不测试产品在使用条件下的长期性能
• 例如：测试电源输出电压是否在18-28V范围内（20V在范围内即为"通过"）

DFMEA探测度评分：

• 探测机会较低，因为只能发现当前状态，不能发现随时间退化的缺陷。
• 当计划时间充分，D=4；当计划时间较迟，D=7；

2. 失效测试 (Test to Failure)

定义：将产品持续测试直到功能失效，关注产品性能随时间的退化过程。

关键特点：

• 测试持续到产品功能完全失效
• 分析产品性能随时间的退化过程
• 例如：测试电源直到输出电压衰退到低于18V

DFMEA探测度评分：

• 探测机会中等，因为虽然能发现性能退化，但测试时间长、成本高。
• 当计划时间充分，D=3；当计划时间较迟，D=6；

3. 老化测试 (Degradation Testing / Accelerated Aging Testing)

定义：通过加大测试环境因素（如高温、高湿、高负荷）来加速产品老化，让设计缺陷更早显现。

关键特点：

• 通过加速环境条件预测产品在正常条件下的寿命
• 比失效测试更快发现设计缺陷
• 例如：在高温高湿环境下测试电源，模拟3000小时使用情况，确保在正常条件下能持续工作

DFMEA探测度评分：

• 探测机会较高，可以通过加速条件让产品的额问题更早显现。
• 当计划时间充分，D=2；当计划时间较迟，D=5；

三种测试的对比总结

重要区分点

1. 测试目的不同：

   • 通过/不通过：只验证当前是否符合要求
   • 失效测试：验证产品在使用条件下的寿命
   • 老化测试：加速预测产品在正常条件下的寿命

2. 测试时间与成本：

   • 通过/不通过：测试时间最短，成本最低
   • 失效测试：测试时间长，成本高
   • 老化测试：测试时间较短（相对于失效测试），成本中等

3. 探测机会：

   • 通过/不通过：只能发现当前状态问题，无法发现随时间退化的缺陷；
   • 失效测试：能发现性能退化问题，但测试时间长；
   • 老化测试：能更快发现设计缺陷，因为通过加速条件让缺陷更早显现；

实际应用示例

案例：电源设计

• 通过/不通过测试：测试电源在25°C下输出20V（在18-28V范围内）
• 失效测试：测试电源直到输出电压降至18V以下（可能需要3000小时）
• 老化测试：在85°C、85%湿度下测试100小时，模拟3000小时使用

如果使用OTS样件在设计冻结后的测试，因为测试计划时间较迟，那么：通过/不通过的测试评为7分，试验到失效评为6分，老化测试评为5分。

工欲善其事，必先利其器。

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